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기존 리소그래피용 포토레지스트 고분자 제조 방식은 배치별 균일성 및 생산성 확보에 어려움이 있었습니다. 본 발명은 이러한 문제점을 해결하고자 연속 흐름 반응 공정을 이용한 자외선 리소그래피용 포토레지스트 고분자 제조 방법을 제시합니다. 이 공정을 통해 열전달 불균일성 문제를 해소하고, 고분자 조성비 최적화로 우수한 전환율을 달성합니다. 결과적으로 생산 정밀도를 높여 불량률을 최소화하며, 고품질의 포토레지스트 고분자를 안정적으로 대량 생산할 수 있습니다.
기술 분야 | 포토레지스트 고분자 제조 |
판매 유형 | 자체 판매 |
판매 상태 | 판매 중 |
기술명 | |
연속 흐름 반응 공정을 이용한 자외선 리소그래피용 포토레지스트 고분자 및 이의 제조방법 | |
기관명 | |
인하대학교 | |
대표 연구자 | 공동연구자 |
김명웅 | - |
출원번호 | 등록번호 |
1020210139007 | 1027232790000 |
권리구분 | 출원일 |
특허 | 2021.10.19 |
중요 키워드 | |
포토레지스트 고분자첨단 공정극자외선고분자 합성균일성 제어레지스트 레진연속 흐름 반응생산성 향상심자외선반도체 소재불량률 최소화화학 증폭형 레지스트차세대 반도체자외선 리소그래피RAFT 중합반도체제조고분자 |
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